赛默飞世尔科技公司电镜部门（原FEI公司）与3044am永利集团3044noc材料测试分析中心将于2019年7月5日联合举办电镜讲座。本次讲座面向聚焦扫描电镜技术发展趋势，热烈欢迎各位老师同学参加学习讨论。

讲座日期：2019年7月5日

主讲人：高海峰

讲座地点：3044am永利集团3044noc材料测试分析中心

讲座日程：

         9:00 - 10:00报告       《Thermofisher扫描电镜发展趋势》

         10:30-12:00上机演示    《HeliosG4高分辨电镜典型样品表征》

         13:30-14:30报告        《双束电镜发展趋势与应用》

         15:00-16:30上机演示    《HeliosG4双束应用实例》

联系人：史淑艳   13591743852

主讲人高海峰FEI资深应用工程师,毕业于天津大学精密仪器国家重点实验室,研究方向为基于FIB-SEM的微纳米器件制作。2012年加入FEI公司,有近十年的聚焦离子束双束扫描电镜的应用经验，近几年专注于Xe等离子双束电镜的开发与应用。创造了多种TEM样品制备的方法,参与开发了三维成像技巧。在七年的FEI工作生涯中,为几百家国内外高校研究机构提供技术支持与咨询,与多家客户建立良好合作关系。